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        失效分析系統

        通過微弱的光發射和熱發射來定位半導體器件上失效缺陷位置的顯微鏡成像系統。

        加入對比 共 2 件產品
        產品圖像 產品型號 產品名稱
        產品圖像: 產品型號:C14229-01 產品名稱:Thermal-F1 熱發射顯微鏡
        產品圖像: 產品型號:C10506-05-16 產品名稱:iPHEMOS-DD倒置光發射顯微鏡
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